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分布式光伏數據分析的主要內容分為三大部分：動態數據分析、諧波分析和故障事件分析。對動態數據，軟件可以設置電壓、電流、角度、頻率等額定值和越限門檻值，并可以繪制發生故障時刻前后若干秒的電壓、電流、有功、無功曲線。諧波分析可以計算諧波電壓總畸變率、奇次諧波電壓含有率、偶次諧波電壓含有率、諧波電流是否越限。故障事件分析可以把故障數據解讀成便于閱讀的故障文件。 創新點 對采集的動態電力數據可以形成完整的分析報告，并對故障事件形成完整的分析報告。 市場前景 電網運行的各種場景，都會產生海量數據。為了在這些數據里找到有效信息，需要有數據分析軟件幫助用戶實現。只要是電網運行中產生的數據，都能在該軟件框架的基礎上，實現數據分析相關功能。目前已經開展針對分布式光伏及電采暖數據進行分析，并可以形成完整故障報告。

產品介紹 “NMT界喬布斯”許越先生推薦創新平臺 中關村NMT產業聯盟推介成員單位創新產品 “全球抗疫，人人有責” ? 推出背景：?????? ??研究論文的可重復性是研究科學性的最重要基礎。論文可重復性需要作者對研究的相關過程、研究對象和統計分析方法提供詳細的描述，否則給其他學者重復實驗帶來很大困難，但是活體生理研究的可重復性差一直困擾著這一領域。有一些雜志在這方面已經進行了一些探索，但仍然不能避免一些研究可重復性差的問題。重現性、嚴謹性、透明性和獨立驗證是科學方法的基石。 ??實驗的嚴謹性在于實驗變量的統一，隨著科技的發展，變量的因素會越來越完善，檢測方法、檢測設備也會越來越專業，除了我們已知的實驗變量，其實還有很多的其他因素也是實驗變量的一部分，只是還沒有能夠將這些因素通過精確數據的形式展示出來。 ??NMT創新產品系列，帶您找到實驗中的變量！ ? 產品介紹 名稱：個性化營養液分析儀 型號：PNA-100 品牌：旭月 產地：中國 簡介： 應對挑戰： 人工進行營養液澆灌對于澆灌量，澆灌時間的把控會有人為的誤差性，自動化的設備將會是替代人工操作的趨勢 對于營養液的澆灌，個性化的操作才能迎合科研人員的創新 解決方法： 個性化營養液分析儀通過施肥澆水的自動化，將會大大降低人工操作所帶來的不便，并能夠通過設定程序提高效率 個性化營養液分析儀能夠結合科研人員的個性化需求，提供有針對性的功能程序 ? 功能特點 1.基本功能： 通過灌流裝置對植物進行多種培養液處理 灌流速度、方向可調 液晶屏顯示，操控簡單

產品詳細介紹南京固琦分析儀器制造有限公司專業制造各類焊縫金相圖譜分析，焊縫金相分析，定量金相分析儀，鋁合金金相分析儀，鋼材金相分析儀，金相圖譜，金相標準圖譜，碳硅分析儀器，爐前碳硅化驗儀，光學分析儀器，元素分析儀，金屬分析儀器，鋁合金分析儀，礦石化驗儀器，礦石分析儀，鋁合金化驗儀器,碳硫高速分析儀、多元素分析儀，生鐵分析儀器，鑄造化驗儀器，礦石品位分析儀器，黑色金屬分析儀器，金屬材料化驗儀器，有色金屬分析儀，化學分析儀，微量多元素分析儀器，金屬微量元素分析儀,五大元素分析儀，微量元素分析儀，微機三元素分析儀;鎳鉬鉻化驗儀器，可測定工業材料中碳、硫、錳、磷、硅、鎳、鉻、鉬、銅、鈦、鋅、釩、鎂、稀素的含量土等元素。儀器測量范圍廣、精度高，高、中、低檔齊全，并能接受用戶特殊定貨。廣泛應用于鋼鐵分析儀器、冶金化驗儀器、鑄造化驗設備、機械分析儀器，化工分析儀器、礦山開發設備等行業及質量監督部門和大專院校。(http://www.gqfxy.com)  025-57357222 13851978239)。

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產品詳細介紹JSB-4A型微機高速分析儀儀器簡介： 該儀器適用于材料品種較多的實驗室使用。大屏幕液晶顯示，中文菜單式操作，共四個通道，每個通道可貯存十條工作曲線，原則上可檢測四十種元素含量，檢測結果直接顯示并自動打印，包含JSB-3A、JSB-3C的所有功能，可檢測的元素如：Mn、P、Si、Cr、Ni、ΣRE、Mg、Mo 、Cu、 Ti、V等多種元素。儀器主要特點：1、大屏幕液晶顯示，中文菜單式操作；2、共四個通道，每個通道可貯存10條工作曲線，原則上共可檢測40種元素含量；3、包含JSB-3A、JSB-3C所有主要功能，操作更簡潔；4、通用儀器接口，便于更新升級。

產品詳細介紹JSB-3A型微機高速分析儀主要技術參數： 測量范圍：(以Mn、P、Si、稀土、Mg為例) Mn：0.01～20.50% P：0.0005～1.000% Si：0.01～6.00%儀器主要特點：1、每個通道可貯存3條曲線，原則上每個通道可檢測9個元素；2、通用儀器接口，便于更新升級。

產品詳細介紹主要特點：零點、滿度均可自動調整，無需精確調整，直讀吸光度或百分比含量，自動打印結果，包括爐號、日期、濃度百分含量；采用單片機控制電路，可儲存15條曲線；采用精密觸摸式鍵盤，32鍵音響提示，操作簡單、適用、穩定性好；更換不同的冷光源或濾光片，可擴大測量元素的種類和含量范圍；采用先進的光電轉換技術，適用于各種金屬材料化驗。

金埃譜科技是國內率先推出集完全自動化、智能化、高精度、高穩定性及高性價比于一體的比表面積及孔徑分析設備供應商，相繼推出F-Sorb X400（動態法）及V-Sorb X800（靜態法）兩大系列產品，不僅符合國家及國際標準，而且創建了國內齊全、完善的比表面積及孔徑分析儀產品線。此外，隨著真密度儀G-DenPyc X900系列和高溫高壓吸附儀H-Sorb X600系列的問世，使得我司氣體吸附儀領域的產品線更加完善。

產品詳細介紹一、概述：基因型、表型和環境是遺傳學研究的鐵三角。表型（性狀）是基因型和環境共同作用結果，而基因型與表型之間有著多重關系。研究者用測序和基因組重測序來評估等位基因差異定位數量性狀等已變得很普遍，但其需大量性狀數據來佐證。然而這類分析測量的結果受人員、工具和環境等的干擾很大，還會損傷到植物。故迫切需要高效、準確的萬深PhenoGA植物表型分析測量儀來做可視化的精確數據分析和表型測試，如測試對壓力和環境因素的表型反應、生態毒理學測試或萌發測定、遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態建模、生長研究等。二、主要性能指標：1、萬深PhenoGA植物表型分析測量儀是頂視+側視版本，由頂視+側視的超大變焦鏡頭自動對焦1500萬像素以上的佳能EOS單反相機直聯電腦獲取植物頂視和側視的RGB彩色圖，并做自動分析；由頂部的主動紅外雙目3D相機（點云密度512*424像素）來獲取植物冠層的3D景深偽彩色圖和可轉換視角的3D重建偽彩色圖。2、可獲得植物在不同生長階段的表型數據主要有：植株高（測量誤差≤±1.5mm）、投影葉面積及其差異值、投影葉片長和卷曲度、葉片數量（自動計數+鼠標個別修正）、葉冠層的3D構型數據（葉冠直徑、葉冠層面積、葉冠層占空比、葉片分布和密度、葉冠層對稱性等，冠層尺寸的測量誤差≤±2mm）、植物株形、精準的莖葉夾角（真實夾角重復測量誤差≤±1.0°）、節間長度及其空間體積估算值、植株高和葉冠層隨時間改變的相對生長速率、葉色平均值（具有葉片顏色自動矯正特性，可按英國皇家園林協會RHS比色卡2015版來自動比色）及其對表征的貢獻評估等。具有分析特性表述如下：1）常規分析：投影葉面積及其動態變化，外周長，外接圓直徑及面積，擬合橢圓主副軸及偏角，凸包內徑、面積及周長，植株高、寬，最小外接矩形長、寬，植株緊實度。2）顏色分析：RGB、LAB顏色值，具有葉片顏色自動矯正特性，可按英國皇家園林協會RHS比色卡2015版來自動比色。3）骨架分析：骨架長度，端點數（葉片數），分叉數（分枝數、分節數），莖葉夾角等。4）玉米株形分析：葉片數，葉片長、寬，葉片彎曲度，葉片投影面積，莖稈分節數，分節長、粗，葉片顏色等。5）生長分析：植株絕對生長、相對生長曲線，相對生長趨勢。6）根系分析：根長，根粗，根尖數等（根粗>1mm）。7）考種分析：種粒數，種粒面積，種粒長、寬（種粒直徑>5mm，不粘連）。8）其它：不同生長時期自動批量化處理分析，多植株網格分析，直線、角度等幾何測量，各測量結果可編輯修正。3、可接入條碼槍來自動刷入樣品編號，具有按條碼標識跟蹤分析的特性。圖像分析方式和耗時：自動分析（約1個樣品 /分鐘）+鼠標指示測量或修正。標配成像分析的植株高可達100cm（莖稈基部距頂部3D相機約135cm，植株距側面拍攝儀約100cm）、葉冠幅可達100cm*80cm（拍攝箱外尺寸160cm高*120cm長*80cm寬）。各項分析數據和標記圖片可導出。三、標配供貨清單：1、超大變焦鏡頭自動對焦1500萬像素以上的佳能EOS單反相機  2套2、主動紅外雙目3D相機及適配器  1套3、單反相機拍攝支架 1套4、含光源的拍攝箱（標配尺寸160cm高*120cm長*80cm寬）  1套5、萬深PhenoGA植物表型分析測量儀軟件及軟件鎖  1套6、葉色色彩矯正板和尺寸自動標定板1付7、手持式條形碼閱讀器 1付8、超薄背光燈板  1付注：可定制到250cm高*120cm長*120cm寬的拍攝箱或定制便攜式的野外田間頂視版的分析檢測儀。若加配萬深SC-G自動考種儀、RootGA根系動態生長監測分析儀等，還可分析種子形態、果實外觀品質、花形和花色、植株根系的脅迫響應等。推薦選配電腦：酷睿i5 CPU / 8G內存/ 256G硬盤 / 23”彩顯/無線網卡，2個USB3.0和3個USB2.0口，Windows 完整專業版或旗艦版

產品詳細介紹BKTEM-Dx全自動熱電性能分析系統關鍵詞：熱電材料，Seebeck系數，電導率， 電阻率，V-1裝置產品介紹：     BKTEM-Dx熱電性能分析系統是一款全新的自動化熱電賽貝克系數測試儀，該儀器實現了一體化設計，無需手動，電腦軟件上可以直接抽真空，設置溫度，只要將樣品裝上之后，實現一鍵式的測量，電阻率及各個表格能夠直觀出現，其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀，不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試，是目前國內高等院校和材料研究所的重要設備。對于熱電材料的研究，熱電性能測試是不可或缺的試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下: 該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出，自動出來測試數據和測試報告。一、適用范圍：1、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。3、塊體和薄膜材料測均可以測試。4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。5、擁有自身專利分析軟件，獨立分析，過程自動控制，界面友好。6、國內高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域。二、技術特點：      一體化設計，所有參數直接在電腦上操作，無須人工干預·解決高溫下溫控精度不準的問題，靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。?溫度檢測可采用J、K型熱電偶，降低測試成本。·試樣采用獨特的焊偶機構，保證接觸電阻最小以及測量結果的高重現性。?每次可測試1-3個樣品.?采用高級數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。 ?采用原裝進口的采集儀，測試報告自動生成。三：主要技術：測量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選同時測試樣品數量：1個，2個，3個 可選控溫精度：0.5K（溫度波動:≤±0.1℃）升溫速率：0.01 –100K/min，極大得提高測試時間測量原理：塞貝克系數：靜態直流電；電阻系數：四端法測量范圍：塞貝克系數：0.5μV/K_25V/K；電阻系數：0.2Ohm-2.5KOhm分辨率：塞貝克系數：10nV/K;電阻系數： 10nOhm測量精度：塞貝克系數：＜±6％；電阻系數：＜±5％樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm熱電偶導距: ≥6 mm電   流: 0 to 160 Ma氣   氛：0 to 160 mA加熱電極相數/電壓：單相，220V，夾具接觸熱阻：≤0.05 m2K/W圖1 單一樣品測試系統原理示意圖