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一種倒裝 LED 芯片在線檢測(cè)方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種倒裝 LED 芯片在線檢測(cè)方法，該方法所涉及 的檢測(cè)裝置包括盤(pán)片裝載臺(tái)、運(yùn)輸傳輸系統(tǒng)、收光測(cè)試組件、探針工 作臺(tái)以及探測(cè)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)，其中，該在線檢測(cè)方法為:在工作中，運(yùn)輸 傳送系統(tǒng)可以運(yùn)輸盤(pán)片工作臺(tái)到合適的工作區(qū)域，調(diào)整位姿之后，啟 動(dòng)探測(cè)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)對(duì)探針工作臺(tái)進(jìn)行控制，使探針與待測(cè)試的芯片接觸 通電，使芯片發(fā)亮，從而收光測(cè)試組件可以對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)。按照本發(fā) 明的機(jī)械結(jié)構(gòu)，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機(jī)和發(fā)光面不同側(cè)的 問(wèn)題，并且采用了精密圖像
華中科技大學(xué)
2021-04-14
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光學(xué)超晶格鈮酸鋰有源光量子芯片
國(guó)際上第一個(gè)鈮酸鋰有源光量子芯片
一、項(xiàng)目分類(lèi)
重大科學(xué)前沿創(chuàng)新、關(guān)鍵核心技術(shù)突破
二、成果簡(jiǎn)介
南京大學(xué)物理學(xué)院祝世寧院士的科研團(tuán)隊(duì)，研制出國(guó)際上第一個(gè)鈮酸鋰有源光量子芯片。該芯片集成了微型化光學(xué)超晶格糾纏光源、波導(dǎo)量子干涉器、波分復(fù)用器及電光調(diào)制器等不同功能器件,實(shí)現(xiàn)了糾纏光子的高效產(chǎn)生、高速電光調(diào)制并完成相應(yīng)的信息處理功能。該芯片由光纖耦合輸入輸出,能在室溫穩(wěn)定工作，工作電壓低于3.55V，調(diào)控速率可達(dá)40GHz。芯片的多項(xiàng)核心指標(biāo)如糾纏光子產(chǎn)率、調(diào)諧速率、調(diào)諧帶寬等創(chuàng)下當(dāng)時(shí)國(guó)際最高水平，為光量子集成光學(xué)和信息處理開(kāi)辟了一條和硅基芯片不同的技術(shù)路線。
成果以編輯推薦形式發(fā)表在物理學(xué)頂級(jí)期刊《物理評(píng)論快訊》(Phys. Rev. Lett. ,2014)上，被國(guó)際Physics、IEEE Spectrum等科技媒體重點(diǎn)評(píng)述。成果也成功入選中國(guó)光學(xué)十大進(jìn)展(2014)，以此為主要成果之一的“光學(xué)超晶格中糾纏光子的產(chǎn)生、調(diào)控和應(yīng)用”獲2020年高等學(xué)校自然科學(xué)獎(jiǎng)一等獎(jiǎng)。以此成果為基礎(chǔ)，團(tuán)隊(duì)成功獲批和完成基金委重大科研儀器研制項(xiàng)目，研制出多種高性能量子光源。
南京大學(xué)
2022-08-12
基于電控液晶雙模微透鏡的控光芯片
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于電控液晶雙模微透鏡的控光芯片。該芯片包括面陣電控液晶雙模微透鏡；其包括液晶材料層，依次設(shè)置在液晶材料層上表面的第一液晶初始取向?qū)印⒌谝浑姌O層、電絕緣層、第二電極層、第一基片和第一增透膜，以及依次設(shè)置在液晶材料層下表面的第二液晶初始取向?qū)印⒐搽姌O層、第二基片和第二增透膜；第一電極層由其上布有 m×n 元陣列分布的圓孔的一層勻質(zhì)石墨烯膜構(gòu)成，公共電極層和第二電極層分別由一層與第一電極層同質(zhì)的勻質(zhì)石
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種芯片連晶缺陷識(shí)別方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種芯片連晶缺陷識(shí)別方法，該發(fā)明主要用于在 芯片制造過(guò)程中識(shí)別含連晶缺陷的不合格芯片；包括三個(gè)步驟：步驟 一，對(duì)采集到的芯片圖片進(jìn)行模板匹配，定位出芯片的位置，根據(jù)芯 片的位置，對(duì)圖片進(jìn)行截取；步驟二，對(duì)截取獲得的圖片進(jìn)行預(yù)處理， 增大芯片基體與背景的差別；步驟三、對(duì)經(jīng)過(guò)預(yù)處理的圖片進(jìn)行分割， 獲取 blob 塊，對(duì) blob 塊進(jìn)行特征分析：首先以面積為基準(zhǔn)判斷出是否 含連晶缺陷；對(duì)面積正常的 blob 塊，獲取其 blob 塊最小外接矩形的中 心點(diǎn)以及四邊中點(diǎn)的位置，以中心點(diǎn)以及四邊
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種倒裝 LED 芯片在線檢測(cè)方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種倒裝LED芯片在線檢測(cè)方法，該方法所涉及的檢測(cè)裝置包括盤(pán)片裝載臺(tái)、運(yùn)輸傳輸系統(tǒng)、收光測(cè)試組件、探針工作臺(tái)以及探測(cè)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)，其中，該在線檢測(cè)方法為：在工作中，運(yùn)輸傳送系統(tǒng)可以運(yùn)輸盤(pán)片工作臺(tái)到合適的工作區(qū)域，調(diào)整位姿之后，啟動(dòng)探測(cè)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)對(duì)探針工作臺(tái)進(jìn)行控制，使探針與待測(cè)試的芯片接觸通電，使芯片發(fā)亮，從而收光測(cè)試組件可以對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)。按照本發(fā)明的機(jī)械結(jié)構(gòu)，能夠成功地解決倒裝LED芯片電機(jī)和發(fā)光面不同側(cè)的問(wèn)題，并且采用了精密圖像運(yùn)動(dòng)控制技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了倒裝LED芯片的高速精密測(cè)試，加快了芯片的檢測(cè)效率。
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于模板匹配的芯片定位方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于模板匹配的芯片定位方法，具體包括以下步驟：步驟一，制作模板；步驟二，對(duì)待定位圖片進(jìn)行預(yù)處理，增大背景與芯片基體的對(duì)比度；步驟三，對(duì)預(yù)處理后的圖片進(jìn)行圖像分割，得到blob塊，利用blob塊的面積和blob塊對(duì)應(yīng)的最小外接矩形的邊長(zhǎng)信息排除存在連晶、缺損缺陷的芯片；獲取剩下的blob塊的最小外接矩形的中心位置坐標(biāo)，以及短邊與水平方向的夾角；步驟四，根據(jù)步驟三得出的中心位置坐標(biāo)和夾角，在待定位圖片上采用模板匹配芯片，定位出芯片的位置和角度。本方法主要適用于芯片制造過(guò)程中對(duì)芯片的定位，采用先篩選再匹配的方法能快速準(zhǔn)確定位出合格芯片的位置，排除掉帶有連晶、缺損缺陷的芯片。
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種倒裝LED芯片在線檢測(cè)裝置
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種倒裝LED芯片在線檢測(cè)裝置，包括底座，所述底座的上端轉(zhuǎn)動(dòng)連接有支撐塊，所述底座的正上方設(shè)有支撐臺(tái)，所述支撐塊的上端與支撐臺(tái)的下端轉(zhuǎn)動(dòng)連接，所述支撐臺(tái)的上端分別固定連接有第一安裝塊和第二安裝塊，所述第一安裝塊和第二安裝塊之間設(shè)有LED芯片本體，所述LED芯片本體的一側(cè)設(shè)有支撐桿，所述支撐桿遠(yuǎn)離LED芯片本體的一端貫穿第一安裝塊，所述支撐桿與第一安裝塊之間為轉(zhuǎn)動(dòng)連接，所述第一安裝塊的上端插設(shè)有第二螺桿，所述第二螺桿的下端貫穿第一安裝塊并與支撐桿相抵，所述第二螺桿與第一安裝塊之間為螺紋連接。本實(shí)用新型通過(guò)調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的設(shè)置，實(shí)現(xiàn)對(duì)LED芯片翻轉(zhuǎn)、旋轉(zhuǎn)，提高使用時(shí)的便捷性與檢測(cè)時(shí)的多樣化。
華中科技大學(xué)
2021-04-14
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高精度圖像對(duì)焦伺服控制器及顯微成像系統(tǒng)
技術(shù)成熟度：技術(shù)突破
領(lǐng)域存在著景深影響效率的突出問(wèn)題，本產(chǎn)品以高性能異構(gòu)處理器為核心運(yùn)算單元，以嵌入式手段通過(guò)視覺(jué)流與控制流的嚴(yán)格對(duì)位，高性能實(shí)時(shí)完成視頻控制信息的結(jié)算，并直接輸出電機(jī)驅(qū)動(dòng)信號(hào)控制相關(guān)執(zhí)行機(jī)構(gòu)完成閉環(huán)控制。
本產(chǎn)品主要面向高性能伺服閉環(huán)控制的視頻應(yīng)用領(lǐng)域，能夠顯著提升顯微工業(yè)自動(dòng)化領(lǐng)域的視頻對(duì)焦及對(duì)位處理的效率及精度，亦可實(shí)現(xiàn)宏觀領(lǐng)域的視覺(jué)嵌入化控制閉環(huán)應(yīng)用。
意向開(kāi)展成果轉(zhuǎn)化的前提條件：中試放大及產(chǎn)業(yè)化工藝開(kāi)發(fā)資金支持
東北師范大學(xué)
2025-05-16
一種聯(lián)合最佳接納控制和剔除控制的流量控制方法
本發(fā)明涉及認(rèn)知無(wú)線電網(wǎng)絡(luò)中的服務(wù)質(zhì)量保證和性能優(yōu)化，提出了一種聯(lián)合最佳接納控制和剔除控制的 QoS 保證機(jī)制，包括系統(tǒng)的初始化、計(jì)算出最佳接納概率和剔除概率以及認(rèn)知用戶的各個(gè)性能指標(biāo)。本發(fā)明基于動(dòng)態(tài)接納概率和剔除概率的 QoS 保證機(jī)制，可以在使得系統(tǒng)吞吐率最大化的情況下，同時(shí)嚴(yán)格地保證認(rèn)知用戶的 QoS 要求；所述方法可以在集中式網(wǎng)絡(luò)中得以實(shí)現(xiàn)。
華中科技大學(xué)
2021-04-11
電鈴控制儀
產(chǎn)品詳細(xì)介紹 本儀是我公司SPC機(jī)系列產(chǎn)品之一，適用于各機(jī)關(guān)、團(tuán)體、學(xué)校、企事業(yè)單位需要按時(shí)間控制用電設(shè)備和定時(shí)響鈴的地方，它具有停電記憶、走時(shí)不亂，時(shí)間精度高，編程簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。本SPC系列儀器系國(guó)家級(jí)新產(chǎn)品，經(jīng)國(guó)家鑒定本系列儀器是目前技術(shù)、性能處于國(guó)內(nèi)領(lǐng)先地位的先進(jìn)產(chǎn)品。本系列產(chǎn)品曾在國(guó)際科技與和平周活動(dòng)中獲“中國(guó)科技之光進(jìn)步獎(jiǎng)”和“愛(ài)迪生”發(fā)明金獎(jiǎng)。又被國(guó)家貿(mào)易部評(píng)為質(zhì)量信得過(guò)產(chǎn)品。天安門(mén)廣場(chǎng)國(guó)旗自動(dòng)升降及國(guó)歌自動(dòng)播放設(shè)備中采用本系列產(chǎn)品。 一、功能和特點(diǎn)： 1、本儀器可在每天二十四小時(shí)中的任意時(shí)、分自動(dòng)開(kāi)關(guān)用電設(shè)備或控制響鈴。 2、用戶可方便地洗、編、檢查、修改程序(作息時(shí)間表)。 3、編定時(shí)間程序后，電腦無(wú)需電池可保證停電十年記憶不亂。 4、儀器機(jī)內(nèi)裝有可充電電池，在停電五天內(nèi)，能維持電子鐘繼續(xù)走時(shí)(但不顯示)。 5、調(diào)鐘可快進(jìn)、慢進(jìn)、倒退。 6、電鈴鈴聲有三種，上課：十短聲、下課：一長(zhǎng)聲：預(yù)備:六組兩短聲。 7、本儀采用發(fā)光數(shù)碼管顯示時(shí)間，清晰、美觀且耐久。
龍巖智電廠
2021-08-23