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本發(fā)明公開了一種具備故障檢測(cè)和參數(shù)校正功能的平面扭簧裝置，它由平面扭簧、故障檢測(cè)電路和力矩傳感器三部分組成。本發(fā)明充分利用各種平面扭簧的優(yōu)勢(shì)，通過檢測(cè)固定環(huán)和安裝環(huán)間的通斷對(duì)彈性體進(jìn)行故障檢測(cè)，可以有效判斷彈性體的使用壽命，為改進(jìn)設(shè)計(jì)和加工工藝提供依據(jù)，有助于縮短迭代開發(fā)的周期，提高對(duì)平面扭簧設(shè)計(jì)質(zhì)量的觀測(cè)和分析；通過力矩傳感器的精確力矩檢測(cè)，可以實(shí)時(shí)補(bǔ)償和校正彈性體的彈性系數(shù)變化，以提高對(duì)力矩控制的性能，為了降低成本，在關(guān)節(jié)設(shè)計(jì)中可以去除力矩傳感器，而在定期檢查時(shí)可以使用一個(gè)力矩傳感器對(duì)所有關(guān)節(jié)進(jìn)行校正即可。本發(fā)明的平面扭簧裝備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，適合應(yīng)用于各種機(jī)器人和機(jī)械臂關(guān)節(jié)。

涉及一種基于平面掃描三維成像的人體安檢系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)的安檢門框架內(nèi)裝有平面掃描驅(qū)動(dòng)單元的掃描臂，掃描臂前后兩側(cè)分別裝有掃描單元的毫米波收發(fā)天線陣列，安檢門框架兩側(cè)分別裝有毫米波收發(fā)機(jī)，掃描臂上端連接平面掃描驅(qū)動(dòng)單元的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，控制單元連接掃描單元和平面掃描驅(qū)動(dòng)單元，以使毫米波收發(fā)天線陣列進(jìn)行平面掃描；控制單元連接數(shù)據(jù)采集單元，用于控制所述數(shù)據(jù)采集單元采集處理來自掃描單元的檢測(cè)信號(hào)；圖像處理單元連接數(shù)據(jù)采集單元，用于根據(jù)采集數(shù)據(jù)和采集數(shù)據(jù)的空間位置信息合成三維全息圖像，并由顯示器顯示所述三維全息圖像。

本發(fā)明公開了一種多探針平面度檢測(cè)儀及其相應(yīng)的檢測(cè)方法，該檢測(cè)儀包括測(cè)量探針陣列、測(cè)量物鏡、干涉顯微鏡、CCD 成像裝置、垂直掃描工作臺(tái)和水平工作臺(tái)，其中干涉顯微鏡和 CCD 成像裝置設(shè)置在垂直掃描工作臺(tái)上，分別用于形成光的干涉條紋和干涉條紋的成像；測(cè)量探針陣列包括多個(gè)探針，這些探針各自的前端具有探針針尖，后端具有平面反射鏡；測(cè)量物鏡固定安裝在干涉顯微鏡下部并處于探針平面反射鏡上方，用于對(duì)光線進(jìn)行匯聚；水平工作臺(tái)設(shè)置在測(cè)量探針陣列下方用于放置被測(cè)樣品。按照本發(fā)明，能夠?qū)崿F(xiàn)多探針同時(shí)測(cè)量，充分利用光干涉的高精度特性并有效避免測(cè)量時(shí)被測(cè)表面材料光學(xué)性能的影響，相應(yīng)能夠?qū)崿F(xiàn)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、測(cè)量精度高和成本低的效果。

項(xiàng)目概況 本軟件適用于機(jī)械行業(yè)精密檢測(cè)，可對(duì)平板的平面度誤差、軸類零件的圓度誤差及球 類零件的球度誤差進(jìn)行精確計(jì)算，在不改變硬件測(cè)量設(shè)備的前提下，通過采用該軟件能夠大 大提高設(shè)備的檢測(cè)精度，增強(qiáng)設(shè)備的通用性和柔性，對(duì)機(jī)械行業(yè)具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。本軟 件可推廣應(yīng)用于三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等新型測(cè)量設(shè)備中。。 本項(xiàng)目處于國(guó)際先進(jìn)水平，擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。 主要特點(diǎn) ISO1101 和 GB/T1182-1996 規(guī)定，形狀誤差的評(píng)定應(yīng)符合最小區(qū)域法，并以此為仲裁 方法。但因傳統(tǒng)算法無法對(duì)各種形狀誤差以及同一種誤差不同的測(cè)點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的誤差 表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，為此目前檢測(cè)設(shè)備在對(duì)形狀誤差檢測(cè)時(shí)， 其評(píng)定結(jié)果多是根據(jù)最小二乘法計(jì)算，但最小二乘法提供的僅是形狀誤差的近似評(píng)定結(jié)果， 并不保證解的最小區(qū)域性。隨著數(shù)控和精密加工技術(shù)的迅速發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品的加工和裝配精度 要求越來越高，能否實(shí)現(xiàn)機(jī)械零件形狀誤差快速、精確評(píng)定對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和成本至關(guān)重要。本 軟件的研制即為解決這一問題而展開。 技術(shù)指標(biāo) 該軟件采用進(jìn)化計(jì)算求解平面度、圓度及球度誤差的最小區(qū)域解，其計(jì)算結(jié)果比按最小 二乘法的計(jì)算結(jié)果小 1.8%~30%；用戶在使用時(shí)，只要根據(jù)軟件提示選擇待評(píng)定的形狀誤差 類型，導(dǎo)入測(cè)量數(shù)據(jù)，不論測(cè)點(diǎn)形式如何，軟件都能快速地將形狀誤差的最小區(qū)域解計(jì)算出 來，克服了傳統(tǒng)算法存在的無法對(duì)多種形狀誤差或同一種誤差不同的測(cè)點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的 誤差表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，從而不便于在三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等新型精 密儀器中推廣應(yīng)用的缺陷。 市場(chǎng)前景 本軟件采用基于實(shí)數(shù)編碼的進(jìn)化算法能夠快速精確地求解平面度、圓度及球度形狀誤差 的最小區(qū)域解。該軟件人機(jī)界面友好，操作簡(jiǎn)便，計(jì)算準(zhǔn)確且計(jì)算速度快，能方便地導(dǎo)入測(cè) 量數(shù)據(jù)、顯示形狀誤差進(jìn)化過程曲線及計(jì)算結(jié)果，同時(shí)具有打印輸出等功能，易于在新型精 密儀器中推廣應(yīng)用。 

項(xiàng)目概況 本軟件適用于機(jī)械行業(yè)精密檢測(cè)，可對(duì)平板的平面度誤差、軸類零件的圓度誤差及球 類零件的球度誤差進(jìn)行精確計(jì)算，在不改變硬件測(cè)量設(shè)備的前提下，通過采用該軟件能夠大 大提高設(shè)備的檢測(cè)精度，增強(qiáng)設(shè)備的通用性和柔性，對(duì)機(jī)械行業(yè)具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。本軟 件可推廣應(yīng)用于三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等新型測(cè)量設(shè)備中。。 本項(xiàng)目處于國(guó)際先進(jìn)水平，擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。 主要特點(diǎn) ISO1101 和 GB/T1182-1996 規(guī)定，形狀誤差的評(píng)定應(yīng)符合最小區(qū)域法，并以此為仲裁 方法。但因傳統(tǒng)算法無法對(duì)各種形狀誤差以及同一種誤差不同的測(cè)點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的誤差 表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，為此目前檢測(cè)設(shè)備在對(duì)形狀誤差檢測(cè)時(shí)， 其評(píng)定結(jié)果多是根據(jù)最小二乘法計(jì)算，但最小二乘法提供的僅是形狀誤差的近似評(píng)定結(jié)果， 并不保證解的最小區(qū)域性。隨著數(shù)控和精密加工技術(shù)的迅速發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品的加工和裝配精度 要求越來越高，能否實(shí)現(xiàn)機(jī)械零件形狀誤差快速、精確評(píng)定對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和成本至關(guān)重要。本 軟件的研制即為解決這一問題而展開。 技術(shù)指標(biāo) 該軟件采用進(jìn)化計(jì)算求解平面度、圓度及球度誤差的最小區(qū)域解，其計(jì)算結(jié)果比按最小 二乘法的計(jì)算結(jié)果小 1.8%~30%；用戶在使用時(shí)，只要根據(jù)軟件提示選擇待評(píng)定的形狀誤差 類型，導(dǎo)入測(cè)量數(shù)據(jù)，不論測(cè)點(diǎn)形式如何，軟件都能快速地將形狀誤差的最小區(qū)域解計(jì)算出 來，克服了傳統(tǒng)算法存在的無法對(duì)多種形狀誤差或同一種誤差不同的測(cè)點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的 誤差表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，從而不便于在三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等新型精 密儀器中推廣應(yīng)用的缺陷。 市場(chǎng)前景 本軟件采用基于實(shí)數(shù)編碼的進(jìn)化算法能夠快速精確地求解平面度、圓度及球度形狀誤差 的最小區(qū)域解。該軟件人機(jī)界面友好，操作簡(jiǎn)便，計(jì)算準(zhǔn)確且計(jì)算速度快，能方便地導(dǎo)入測(cè) 量數(shù)據(jù)、顯示形狀誤差進(jìn)化過程曲線及計(jì)算結(jié)果，同時(shí)具有打印輸出等功能，易于在新型精 密儀器中推廣應(yīng)用。 

本發(fā)明公開了一種基于電控液晶平面微透鏡的波前控制芯片。芯片包括面陣電控液晶平面微透鏡，其包括液晶材料層，依次設(shè)置在液晶材料層上表面的第一液晶初始取向?qū)印D形化電極層、第一基片和第一增透膜，以及依次設(shè)置在液晶材料層下表面的第二液晶初始取向?qū)印⒐搽姌O層、第二基片和第二增透膜；公共電極層由一層勻質(zhì)導(dǎo)電膜構(gòu)成；圖形化電極層由 m×n 元陣列分布的子電極構(gòu)成，每個(gè)子電極均由繞圓周呈十字叉型均勻分布的四個(gè)條狀導(dǎo)電膜構(gòu)成，單個(gè)

本發(fā)明公開了一種基于電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡的紅外波束控制芯片。其包括電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡陣列；電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡陣列包括液晶材料層，依次設(shè)置在液晶材料層上表面的第一液晶初始取向?qū)印⒌谝浑姼綦x層、圖形化電極層、第一基片和第一紅外增透膜，以及依次設(shè)置在液晶材料層下表面的第二液晶初·750·始取向?qū)印⒌诙姼綦x層、公共電極層、第二基片和第二紅外增透膜；公共電極層由一層勻質(zhì)導(dǎo)電膜構(gòu)成；圖形化電

本書對(duì)車削加工物理仿真關(guān)鍵技術(shù)及其試驗(yàn)研究進(jìn)行了較為系統(tǒng)的闡述, 特別針對(duì)柔性工件車削加工進(jìn)行了深入分析, 內(nèi)容包括: 加工過程振動(dòng)的仿真研究, 加工過程穩(wěn)定性分析及其試驗(yàn), 尺寸誤差建模及其試驗(yàn)等。

 隨著激光技術(shù)的不斷發(fā)展，超快超強(qiáng)激光可以在飛秒的時(shí)間尺度（1飛秒=10-15 秒）內(nèi)作用于電子使電子產(chǎn)生約0.1納米（1納米=10-9米）量級(jí)的空間位移。利用超短超強(qiáng)激光脈沖，人們將可以實(shí)現(xiàn)分子尺度下的電子位置的超快及超高精度的位置控制。然而現(xiàn)有的探測(cè)技術(shù)，卻無法實(shí)現(xiàn)對(duì)電子如此微小位移的精確測(cè)量。隧道掃描顯微鏡（STM）利用的電子量子隧穿信號(hào)能以0.1納米的橫向和0.01納米的縱向分辨率對(duì)靜止的原子進(jìn)行成像，卻無法對(duì)運(yùn)動(dòng)中的電子進(jìn)行成像。光電子顯微鏡（PEEM）成像系統(tǒng)雖然可以測(cè)量運(yùn)動(dòng)電子的位置，但是其最好的分辨率僅能達(dá)到約3納米，無法在0.1納米的尺度進(jìn)行位移測(cè)量。日前，該團(tuán)隊(duì)利用強(qiáng)場(chǎng)電離中的時(shí)間雙縫干涉圖樣，提出對(duì)電子在激光脈沖下的微小位移進(jìn)行了測(cè)量的新方案，該方案的分辨率可達(dá)0.01納米。為了測(cè)量電子在超短脈沖作用下的位移，他們把導(dǎo)致電子位移的超短脈沖置于兩束較長(zhǎng)反向旋轉(zhuǎn)的圓偏振光之間。兩束反旋向的圓偏振光先后分別電離電子，構(gòu)成時(shí)間上的電子波包雙縫干涉，這在電子動(dòng)量譜中產(chǎn)生渦旋結(jié)構(gòu)。在沒有中間的超短脈沖時(shí)，該渦旋結(jié)構(gòu)角向是均勻分布的。當(dāng)中間加入了一束任意的被測(cè)超短脈沖，它將作用于前一圓偏光電離的電子使之產(chǎn)生微小位移，這個(gè)微小位移使得電子波包獲得一個(gè)額外相位，從而導(dǎo)致先后兩個(gè)電子波包的干涉結(jié)構(gòu)在角方向產(chǎn)生了非均勻性。他們提出通過測(cè)量這個(gè)非均勻的角向分布，可以準(zhǔn)確地提取出電子在超短脈沖作用下產(chǎn)生的亞納米量級(jí)的微小位移。他們的方案對(duì)激光的焦斑效應(yīng)以及兩束圓偏振光的相位抖動(dòng)具有很好的抗干擾能力。左圖：新方案示意圖；右圖：測(cè)量方案給出的理論預(yù)測(cè)結(jié)果。 理論提出并在實(shí)驗(yàn)上實(shí)現(xiàn)了對(duì)橢圓偏振強(qiáng)激光橢偏率的原位測(cè)量新方案。他們利用兩束其它參數(shù)相同而旋向相反的橢偏光來電離惰性氣體氙（Xe）原子，強(qiáng)場(chǎng)電離得到的電子閾上電離譜和單電離離子總產(chǎn)率譜敏感地依賴于兩束光脈沖之間的延時(shí)。這些能譜和產(chǎn)率隨延時(shí)的周期性調(diào)制，能夠準(zhǔn)確反映一個(gè)光學(xué)周期之中橢圓偏振光的電場(chǎng)強(qiáng)度的最小和最大值間的比值，因此可以用來準(zhǔn)確提取每一束橢偏光的橢偏率。研究表明，這一橢偏率測(cè)量方案在很大的激光參數(shù)范圍內(nèi)普遍適用，這一工作在準(zhǔn)確表征超快強(qiáng)激光場(chǎng)的性質(zhì)方面邁出了重要一步，將對(duì)強(qiáng)場(chǎng)物理研究中精細(xì)操控原子分子內(nèi)的超快過程起到重要推動(dòng)作用。

針對(duì)我國(guó)沿岸封閉海灣自凈能力弱和灘涂、水體等典型生境退化嚴(yán)重的實(shí)際，建立基于“驅(qū)動(dòng)力-壓力-狀態(tài)-影響-響應(yīng)( DPSIR)”框架模型的封閉海灣生境退化綜合診斷技術(shù)，確定其生境退化的主導(dǎo)因素；開發(fā)基于有限元技術(shù)的淺海水動(dòng)力模型（SHYFEM）、充分利用潮、余流的稀釋、輸運(yùn)能力降低灣內(nèi)污染物積累的物理修復(fù)關(guān)鍵技術(shù)和綜合利用鹽土植物、大型藻類、貝類和多毛類改善水質(zhì)和灘涂底質(zhì)的生物修復(fù)關(guān)鍵技術(shù)，建立“海岸-灘涂-淺海”一體化的生境修復(fù)示范區(qū)，編制相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)；以 DPSIR 框架模型為指導(dǎo)，提出封閉海灣典型退化生境的修復(fù)策略和對(duì)目標(biāo)海灣（三沙灣）生境有針對(duì)性的、切實(shí)可行的修復(fù)技術(shù)方案，重點(diǎn)解決封閉海灣因積累性污染引起的生境退化問題。為提高我國(guó)封閉海灣生態(tài)環(huán)境保護(hù)與修復(fù)能力，保障沿海經(jīng)濟(jì)社會(huì)又好又快發(fā)展，提供技術(shù)支撐和決策咨詢。