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產品詳細介紹OMS材料物理光學屬性測量儀OMS2材料物理光學屬性BRDF測量儀，用于測量光學材料表面BRDF光學屬性以及材料體光學屬性，測量出的數據經過OMS2數據處理軟件的擬合，得出.BRDF格式的文件，這些文件都攜帶了材料的表面光學屬性和體光學屬性。這些數據文件可在OMS2支持軟件中直接讀取，在OMS2支持軟件的協助下完成雜散光仿真分析處理。國內外用戶有拜爾材料、洛克希德馬丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工業上海航空電器有限公司等。設備組成OMS2材料BRDF光學屬性高精測量系統由OMS2測量儀、數據處理工作站、OMS4數據處理軟件。注：B2DF的解釋雙向反射分布函數（Bidirectional Reflectiondistribution function, BSDF）是研究物體表面粗糙度之光學性質。由于物體表面上有凹凸不平的微小表面，一束入射光線射到表面而產生反射現象，用BRDF 來表示這種反射（散射）現象。其中雙向（Bidirectional）系指入射光與接受散射光的方向，因不同的入射光角度所產生的散射性質亦不相同。BRDF 主要應用在計算機仿真物體表面明亮度，與真實人眼所看物體之明亮度相符；另外可應用在背光模塊之光學模擬，例如擴散膜之散射性質。測量波段OMS2測量系統可獲得測量、提取材料在可見光以及近紅外波段的光學屬性，具體測量波段是400nm—670nm測量結果（1）材料表面光學屬性BRDFa. 材料BRDF點陣數據在使用OMS2測量材料時，儀器中的光電倍增管（PMT）在2π空間內接受樣品反射以及透射的光能量數據，因此測量后會得到離散型的點陣數據。b. 材料BRDF文件數據離散型數據直接被使用于軟件仿真并不精確，所以所得的離散型數據必須經過數據處理才可使用，OMS2系統的工作站中帶有由OPTIS研發出來的數據處理系統，經過OMS2數據處理軟件的數據擬合、處理可得出精確的可直接使用.BRDF格式的文件結果中可以查看光的不同入射角度，以及不同波長時，光在材料表面反射、吸收的參數，并且還可查看反射的光型。（2）OMS2數據處理軟件OMS2數據處理軟件內含有OPTIS大量材料屬性數據庫，可對采集到的離散型數據進行處理擬合，生成.BSDF格式的材料面光學屬性文件，以及.Material格式的材料體光學屬性文件。生成的材料光學屬性文件可在OMS2支持軟件中使用。

產品詳細介紹超薄尺寸  作為內置型結構，實現了超薄設計和裝配允許工作溫度范圍  -55℃~+155℃防護等級高  耐震動和沖擊高旋轉速度  最高可以達到60000 RPM高可靠性 由于采用了和馬達相似的結構，但是由于轉子無繞線， 因此具有很高的可靠性低成本  通過減少元件數目大幅度的降低了旋變的成本可滿足不同外形尺寸的設計  可提供不同的保護等級（IP）器應用范圍：廣泛應用于混合動力汽車，純電動汽車系統。

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鏡頭型號 YF-WXUA 類型 短焦定焦 電動位移 NO 焦距（mm） 11.4 F值 2.0 鏡頭直徑（mm） 80 重量（KG) 0.8 離軸率 1:0 投射比 0.75:1 投影距離(m) 尺寸（英寸） 長*寬（m） 0.6 40 0.8*0.6 0.9 60 1.2*0.9 1.2 80 1.6*1.2 1.5 100 2.0*1.5 1.8 120 2.4*1.8 2.2 150 3.0*2.3 3 200 4.1*3.0 3.8 250 5.1*3.8 4.5 300 6.1*4.6 5.3 350 7.1*5.3 6 400 8.1*6.1 使用機器型號：三洋XU1050C， XU1060C

珠海真理光學儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發和生產，公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經驗和工作成就的精英人才，其專業涵蓋顆粒表征技術的基礎理論研究、應用技術開發、產品制造、技術支持和商業運營服務。 真理光學技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用的研究和開發經驗，其獨有的優勢包括： 具有深厚的基礎理論研究功底及能力 能從根本上探索激光粒度測量的機理、存在的問題及解決方法。典型成果為發現愛里斑的反常變化（ACAD)規律及其對顆粒測量的影響，解決了 ACAD現象對光能數據反演的干擾。 具備先進技術的原創能力 斜置梯形窗口技術解決了全反射盲區問題，使亞微米顆粒的測量能力得到極大的加強；統一的散射光能反演算法，免除用戶必須選擇反演模式，而不同模式有不同結果的困擾；偏振空間濾波技術解決了傳統針孔濾波的震動敏感問題；利用散射光的偏振差異解決了折射率未知顆粒的測量問題。 精益求精的工匠精神 每一個產品從基礎理論研究到技術創新、從質量管控 到客戶服務，真理光學都以其精益求精的態度追求細節之處的完美。 從納米到微米，從固體顆粒到乳液、噴霧，真理光學致力于為全球客戶提供最專業、最全面的顆粒表征和應用解決方案！

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