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全功能可配置NAND?Flash芯片測試設(shè)備

2021-01-12 00:00:00
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關(guān)鍵詞: NAND?Flash芯片
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所屬領(lǐng)域:
先進制造與自動化
項目成果/簡介:

已有樣品/n該成果研發(fā)了一種全功能、可配置的NAND Flash芯片測試設(shè)備,專為測試開發(fā),采用完全自主知識產(chǎn)權(quán)的NAND Flash控制器。支持基本讀寫命令和高級命令,可根據(jù)NAND Flash Datasheet自定義測試命令,并且支持覆蓋寫、編程干擾、保留時間、Read Retry等特殊測試。同時支持3D Nand Flash,支持SLC,MLC,TLC,支持同步和異步Flash,支持TSOP48,BGA63,BGA100,BGA132,BGA152封裝產(chǎn)品支持Micron、Samsung、T

項目階段:
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